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集成电路测试机的挑战与趋势

摘要:介绍了集成电路测试机(ATE)面临的挑战与解决方案。

关键词:
  • 集成电路  
  • 测试  
  • 微调  
  • trim  
作者:
迎九
单位:
《电子产品世界》; 北京100036
刊名:
电子产品世界

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

期刊名称:电子产品世界

电子产品世界杂志紧跟学术前沿,紧贴读者,国内刊号为:11-3374/TN。坚持指导性与实用性相结合的原则,创办于1993年,杂志在全国同类期刊中发行数量名列前茅。