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功率晶体管直流增益温度变化率的研究及埋层结构优化

摘要:利用TCAD半导体器件仿真软件,依据NPN型大功率晶体管电参数指标要求,针对直流增益及其高、低温变化率进行了研究.为拓宽满足直流增益要求的结构参数范围并改善直流增益高、低温变化率,提出一种新型带P^+埋层的高反压大功率晶体管结构.仿真结果表明:通过对P^+埋层掺杂浓度和厚度进行优化,可有效折中直流增益和集电极-发射极击穿电压的矛盾关系,使得发射区、基区结构参数在较大范围内满足直流增益指标要求,增大了工艺裕量.P^+埋层的存在,可针对满足直流增益及其高、低温变化率的要求来调整发射区、基区结构参数.

关键词:
  • 功率晶体管  
  • 直流增益  
  • 高低温变化率  
  • 埋层结构  
  • 优化  
作者:
张华杰
单位:
新乡学院物理与电子工程学院; 河南新乡453000
刊名:
电子元件与材料

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

期刊名称:电子元件与材料

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