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MC模拟稻米中Cd元素的XRF法检测

摘要:对XRF法测定稻米中重金属元素时X射线管激发条件和滤光片等测量条件的选择作了理论分析;以Cd元素为例,讨论其最优方案,再通过MC软件进行蒙特卡罗模拟,计算出峰背比,得到各最优值,验证理论分析的准确性。X射线管采用激发较强初级X射线的W靶,管压模拟结果显示,最佳值为80 kV,与理论估算相吻合;滤光片模拟结果显示:Al、Fe和Cu滤光片的厚度分别在1 800,200和130μm时,峰背比最大,三者均与理论估算一致。通过比较,滤光片的最佳条件应为200μm的Fe片。

关键词:
  • 重金属元素  
  • x射线荧光光谱法  
  • 靶材  
  • 管压  
  • 滤光片  
作者:
张丽娇; 汤彬; 李福生; 刘志锋; 张雄杰; 张欣
单位:
东华理工大学核技术应用教育部工程研究中心; 南昌330013; 江西省核资源与环境重点实验室; 南昌330013
刊名:
核电子学与探测技术

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