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1~3nm颗粒物在粒径分布测量仪中的通过效率研究

摘要:基于二甘醇的扫描电迁移率粒径谱仪(DEG-SMPS)是常用的1~3 nm颗粒物粒径分布测量系统.目前对1~3 nm颗粒物在该系统中通过效率的量化不够准确,这给大气颗粒物粒径分布的测量带来了较大的不确定性.本文研究了1~3 nm颗粒物和离子在直管、弯管以及气溶胶中和器等系统组件中的通过效率,并使用等效管长法来量化颗粒物在这些组件单元中的通过效率.研究表明,1~3 nm颗粒物在直管内的通过效率不受颗粒物电性影响,且可以由Gormley-Kennedy (G-K)方程估算.当采样流量为2.5 L·min^-1时,DEG-SMPS系统中总等效管长约为433 cm,其中气溶胶中和器的等效管长为160 cm,弯头的等效管长为33 cm.

关键词:
  • 通过效率  
  • 扫描电迁移率粒径谱仪  
  • 等效管长  
作者:
薛墨; 傅月芸; 蔡润龙; 蒋靖坤; 郝吉明
单位:
清华大学环境学院; 环境模拟与污染控制国家重点联合实验室; 北京100084
刊名:
环境科学学报

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期刊名称:环境科学学报

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