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利用后合成修饰的UiO66-NH2复合材料实现对HS^-的荧光增强检测

摘要:选用稀土离子和β-二酮进行后合成法修饰UiO66-NH2金属有机骨架材料,制备了多重发射的复合材料。X-射线粉末衍射结果显示后修饰过程未改变金属有机骨架的结构。光物理性能测试表明稀土离子与β-二酮分子在主体材料的孔道内发生配位生成β-二酮稀土配合物,敏化了稀土离子发光。通过引入Cu^2+离子使得稀土配合物发光淬灭,再利用Cu^2+离子特异性捕获HS^-离子的方式实现稀土配合物荧光恢复,实现了对HS^-离子的选择性和灵敏性检测,检测限达到11.7μM。

关键词:
  • 金属有机骨架  
  • 后合成修饰  
  • 发光复合材料  
  • 硫氢根离子  
  • 荧光检测  
作者:
李玉鑫; 王子睿; 赵丽娜; 李光明
单位:
黑龙江大学化学化工与材料学院; 哈尔滨150080; 黑龙江东方学院食品与环境工程学部; 哈尔滨150066
刊名:
黑龙江大学工程学报

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