国产芯片自动测试系统射频测试模块设计

摘要:针对当前射频芯片性能不断增强和应用日益广泛的现状,同时为了满足5G射频芯片测试需求,结合当前国际先进芯片自动测试技术,重点对国产芯片自动测试系统射频测试模块开展设计;通过对当前市场常用射频芯片以及5G射频芯片测试需求研究,通过采用小型化设计优化矢量信号收发模块的性能;为解决测试频率不断升高带来的问题,设计中采用模块化变频设计来拓展芯片测试频率范围;同时设计4个射频信号通道,每个通道具有4个射频端口,最大能够对16个被测件进行测试,显著提高芯片测试效率;该系统能够完成50M~12GHz矢量信号发射和分析,同时具有噪声系数测试,S参数测量,双音信号生成等功能。

关键词:
  • 射频芯片自动测试系统  
  • 矢量信号生成和分析  
  • s参数测试  
  • 噪声系数测量  
作者:
郑永丰; 张贵恒; 董阳; 刁静; 王奇之
单位:
北京航天测控技术有限公司; 北京100041
刊名:
计算机测量与控制

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

期刊名称:计算机测量与控制

计算机测量与控制杂志紧跟学术前沿,紧贴读者,国内刊号为:11-4762/TP。坚持指导性与实用性相结合的原则,创办于1993年,杂志在全国同类期刊中发行数量名列前茅。