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U-MOSFET沟槽深度对特性影响的仿真分析

摘要:U-MOSFET是在LDMOS和VDMOS基础上发展起来的一种功率半导体器件,具有大电流和低导通电阻、无少子存储效应、开关速度快、可工作于较高频率等优点,结合此类优点,利用Silvaco软件对U型槽深度对阻断特性和通态特性的影响进行仿真分析。通过观察仿真中沟槽深度的增加对器件阻断电压、导通电阻等的影响,综合探讨了在对U型槽底部氧化层厚度以及沟槽深度的调整中,考虑到对击穿电压和特征导通电阻的影响而需要做出的折衷。

关键词:
  • silvaco仿真  
  • 沟槽深度  
  • 氧化层厚度  
  • 导通电阻  
  • 击穿电压  
作者:
王南南; 关艳霞
单位:
沈阳工业大学信息科学与工程学院; 沈阳110870
刊名:
微处理机

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期刊名称:微处理机

微处理机杂志紧跟学术前沿,紧贴读者,国内刊号为:21-1216/TP。坚持指导性与实用性相结合的原则,创办于1979年,杂志在全国同类期刊中发行数量名列前茅。