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星用介质材料表面充放电效应试验研究

摘要:航天器表面介质材料易遭受表面充放电危害。利用30keV单能电子对几种不同的航天介质材料进行了表面充放电模拟试验,测量了不同电子通量辐照下的表面充电电位以及放电脉冲。试验结果表明,聚酰亚胺薄膜在接地处理不当时表面可充至千伏以上,易发生表面放电,且辐照强度越大,放电频率越高。表面镀铝的聚酰亚胺薄膜在不接地时,铝膜成为悬浮导体更加剧了放电的危害。而通过渗碳处理的聚酰亚胺薄膜,其良好的导电性能可有效抵御nA/cm~2量级电子的表面充电。聚四氟乙烯天线罩表面未进行防静电处理时,表面充电电位可达万伏量级,极易发生放电。

关键词:
  • 介质  
  • 表面充电  
  • 放电脉冲  
  • 电子通量  
作者:
郑汉生; 蔡明辉; 刘小旭; 张振龙; 韩建伟; 左易
单位:
四川航天系统工程研究所; 成都610100; 中国科学院国家空间科学中心; 北京100190; 北京宇航系统工程研究所; 北京100076
刊名:
宇航总体技术

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期刊名称:宇航总体技术

宇航总体技术由北京宇航系统工程研究所;中国宇航出版有限责任公司主办,中国航天科技集团有限公司主管的学术刊物,国内刊号为:10-1492/V。创办于2017年,双月刊,在全国同类期刊中发行数量名列前茅。其主要栏目有:未来运载火箭技术发展、系统与设计、理论与技术、试验与仿真等。