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SSVEP-BCI抗自由眨眼稳定性的ANFIS方法

摘要:针对伪迹干扰下脑机接口稳定性问题,以自由眨眼动作下稳态视觉诱发脑机接口的稳定性为切入点,进行了稳态视觉诱发脑电信号去眼电伪迹(electroculography,简称EOG)研究。提出了一种基于自适应神经模糊推理系统(adaptive neuro-fuzzy inferency system,简称ANFIS)的无眼电电极下脑电信号眼电伪迹的自适应消除方法并进行实验,验证该方法对自由眨眼动作下稳态视觉诱发脑机接口稳定性的提高。该伪迹消除方法通过自适应神经模糊推理系统逼近眼电信号源至眼电伪迹的非线性变换函数,达到消除脑电信号中眼电伪迹的目的。算法通过前额叶区脑电信号获得替代性眼电信号源,经延时处理后,输入自适应噪声消除器中以消除各通道脑电信号中的眼电伪迹。通过自由眨眼动作下稳态视觉刺激实验,对该伪迹消除方法中各参数及函数的选择进行了研究,并将该方法与经典滤波和传统独立成分分析(independent component analysis,简称ICA)进行对比,证明了该方法在消除眼电伪迹的情况下保留了稳态视觉刺激的有效信息,识别正确率较经典滤波相比最高提高了6.25%,较传统ICA相比最高提高10%,保证了稳态视觉诱发脑机接口在自由眨眼动作下的稳定性。

关键词:
  • 脑机接口  
  • 脑电信号  
  • 稳态视觉诱发脑电信号  
  • 眼电伪迹  
  • 自适应神经模糊推理系统  
作者:
陆竹风; 张小栋; 张黎明; 李瀚哲; 李睿
单位:
西安交通大学机械工程学院; 西安710049; 西安交通大学现代设计及转子轴承系统教育部重点实验室; 西安710049
刊名:
振动测试与诊断

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期刊名称:振动测试与诊断

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