HI,欢迎来到好期刊网,发表咨询:400-888-9411 订阅咨询:400-888-1571证券代码(211862)

基于枝切线和可靠度的区域增长相位解包裹算法

摘要:为了提高相位解包裹精度,提出了一种基于枝切线阻止误差传播和可靠度指引路径的解包裹算法。该算法首先计算像素点是否为残差点,根据残差点生成枝切线;然后计算像素点的可靠度,以两相邻像素可靠度之和作为边的可靠度,并按可靠度大小对边排序;接着从可靠度最大的边开始判断,若边对应的任一点未解包且未解包点不在枝切线上,则对边进行解包操作,若边对应的两点都已解包且不属于同一解包区域,则对解包区域进行归并操作;最后对枝切线解包。仿真和实验结果表明:该算法能有效减少误差传播,提高相位解包裹精度。

关键词:
  • 相位解包裹  
  • 残差点  
  • 枝切线  
  • 可靠度  
  • 区域增长  
作者:
张睿; 严利平; 张海燕; 冯浩亮; 楼盈天; 周砚江
单位:
浙江理工大学纳米测量实验室; 杭州310018
刊名:
浙江理工大学学报·自然科学版

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

浙江理工大学学报·自然科学版紧跟学术前沿,紧贴读者,国内刊号为:33-1338/TS。坚持指导性与实用性相结合的原则,创办于1979年,杂志在全国同类期刊中发行数量名列前茅。