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基于线阵CCD的精密尺寸测量系统

摘要:现有尺寸测量方式精度低,测量费时费力。为了提高尺寸测量的精度,使测量系统便携化,操作简单,文中实现了一种基于线阵CCD的精密尺寸测量系统。文中提出新的象元细分方法,将2个像元间距为8μm的线阵CCD等距错排并以60°斜放,可突破像元间距对测量精度的限制,将最大测量误差减小为2μm,在此基础上采用浮动阈值方法进行数据处理,实现高精度尺寸测量。利用FPGA进行硬件描述实现线阵CCD的驱动,对CCD的输出信号进行差分放大,采用硬件滤波方法消除曝光积分和转移过程中的电子学噪声,采用10位模数转换器实现数字量的并行输出,FPGA内部FIFO存储数字量结果。系统充分利用FPGA的可编程资源,有效降低了硬件设计复杂度,无需上位机或者ARM,节约成本,系统小型化便携化。实验表明,该系统有效克服光源及电子学噪声影响,可对1 mm-29 mm的中型尺寸物体进行测量,误差小于2μm。

关键词:
  • 精密测量  
  • fpga  
  • 线阵ccd  
  • 浮动阈值法  
  • 像元细分  
作者:
卢佳宝; 韩学辉; 王彩霞
单位:
长春理工大学电子信息工程学院; 吉林长春130022
刊名:
光电子激光

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期刊名称:光电子激光

光电子.激光杂志紧跟学术前沿,紧贴读者,国内刊号为:12-1182/O4。坚持指导性与实用性相结合的原则,创办于1990年,杂志在全国同类期刊中发行数量名列前茅。